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文章信息

Yu Liu, Xian-Hua Li*, Guo-Qiang Tang, Qiu-Li Li, Xiao-Chi Liu, Hui-Min Yu, Fang Huang, 2019. Ultra-high precision silicon isotope micro-analysis using a Cameca IMS-1280 SIMS instrument by eliminating the topography effect. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 34:906-914.

doi:10.1039/c8ja00431e

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