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文件ID:

CCFeHZnMg

文件名:

document/fhuang/190223/Yu Liu, 2019.pdf

文档标题:

Yu Liu, 2019

文档描述:

Ultra-high precision silicon isotope micro-analysis using a Cameca IMS-1280 SIMS instrument by eliminating the topography effect.

文档链接:

https://metalisotopes.ustc.edu.cn/home/files/download/CCFeHZnMg.html

上传者:

fhuang

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